粉體綜合特性測試儀使用Hausner Ratio豪斯納比和壓縮性指數來評定粉體的流動性，還可以通過休止角或者安息角數據，定質量法和定體積法獲得粉體流速數據來綜合評定粉體性狀表征特性。由微電腦自動化控制技術；可以測試粉體、粉體和顆粒之流動性、松裝密度、堆積密度、體積密度和堆密度參數；當測試流動性時，自動開啟控制閥門，自動計時和流完自動停止計時；當進行粉體和顆粒密度測試時，無需另購稱重天平，自動稱重并記錄測試數據，由液晶顯示并自動計算密度值；自動通過先進的測控技術，以減少傳統(tǒng)的手工堵塞方式帶來的測試誤差和秒表計時誤差；并配備多規(guī)格可轉換漏斗以滿足不同密度測試對漏斗之要求，對粉體性狀分析和產品質量管控、配比都有很好的提升從而幫助企業(yè)降低生產成本。定位結構保證測試結果之準確性。
各種粉體綜合特性測試儀測試方法的優(yōu)勢和不足：
(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可實現在線測量和干法測量。缺點：分辨力較低。
(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好，可測量大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：不能分析細顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。
(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低、圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點：操作復雜，分析速度慢，無法分析細顆粒（如 <2μm）。
(4) 電鏡法：優(yōu)點：能精分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點：代表性差、儀器價格昂貴。
(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快，可測液體或氣體中低濃度顆粒數，分辨力高，樣品用量少。缺點：進樣系統(tǒng)比較復雜，不適用粒徑 <1μm 的樣品。
(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，維護時更換小孔管比較麻煩。
(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格較低，測試范圍較大。缺點：測試時間較長，操作復雜。
(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點：不能用于超細樣品；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(9) 動態(tài)光散射法：優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到亞微米）、測試速度快，重復性好，操作簡便。缺點：測試寬分布的納米材料誤差較大。
(10) 超聲波法：粉體綜合特性測試儀的優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現場測量，無需稀釋樣品。 缺點：分辨率較低，準確性和重復性較差，結果受環(huán)境因素影響較大。
