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2018-11

鹵素水分測定儀產品特點和操作方式
鹵素水份儀是一種新型快速的水分檢測儀器。采用環(huán)形鹵素燈加熱，智能化操作。能快速均勻地干燥樣品，獲得準確的水份測定結果清晰的水份測定信息顯示能實現(xiàn)直觀、簡單、方便地儀器操作。可廣泛應用于塑膠、橡膠、化工、醫(yī)藥、食品、等行業(yè)中的生產過與實驗過程中。鹵素水分測定儀產品優(yōu)點：（1）體積小，重量輕，結構簡單（2）無需輔助設備（3）操作簡單，無需安裝調試培訓（4）效率高、速度快，整體操作不超過10分鐘（5）多種分析方式，全自動、定時、半自動滿足各種分析方式（6）環(huán)形石英鎢鹵紅外線加熱方式...
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2018-11

來看看表面電阻率測試儀的測量原理是什么吧
表面電阻率測試儀可用于測量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻(表面電阻率)，表面比電阻的大小可間接反映試驗材料表面靜電泄漏時間的長短，從而反映試驗材料的帶靜電性能。表面電阻率測試儀測量采用三電極法對試樣進行測試，其試驗裝置主要有平板式電極裝置和高阻計兩部分組成。基本原理是對試樣加入不同擋位的直流電壓，流經試樣的微弱電流用標準電阻取樣放大后，從高阻計上讀出。數(shù)字直接顯示出電阻值,精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便。根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過...
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2018-10

導體電阻率測試儀的主要指標分享
導體電阻率測試儀是根據(jù)四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料(片狀、棒狀)的體電阻率，方塊電阻(簿層電阻)，也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據(jù)美國ASTM標準的規(guī)定，在電路和探頭方面作了重大的修改和技術上的許多突破，半導體電阻率測試儀更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高，穩(wěn)定性好，輸入阻抗高，使用方便、價格低廉等特點。導體電阻率測試儀的主要指標...
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2018-10

體積電阻測試儀的實驗過程詳解
體積電阻測試儀可用于測量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻(表面電阻率)，表面比電阻的大小可間接反映試驗材料表面靜電泄漏時間的長短，從而反映試驗材料的帶靜電性能。體積電阻測試儀測量采用三電極法對試樣進行測試，其試驗裝置主要有平板式電極裝置和高阻計兩部分組成。基本原理是對試樣加入不同擋位的直流電壓，流經試樣的微弱電流用標準電阻取樣放大后，從高阻計上讀出。數(shù)字直接顯示出電阻值,精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便。體積電阻測試儀試驗過程1、在試驗過程中可對升壓擊穿過...
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2018-9

松裝密度儀中影響松裝密度的因素有哪些
松裝密度儀中影響松裝密度的因素有哪些?松裝密度是粉末多種性能的綜合體現(xiàn)，對粉末冶金、機械零件生產工藝的穩(wěn)定，以及產品質量的控制都是很重要的，也是模具設計的依據(jù)。粉末松裝密度的測量方法有3種：漏斗法;斯柯特容量計法;振動漏斗法。影響粉末松裝密度的因素很多，如粉末顆粒形狀、尺寸、表面粗糙度及粒度分布等。通常這些因素因粉末的制取方法及其工藝條件的不同而有明顯差別。一般地說，粉末松裝密度隨顆粒尺寸的減小、顆粒非球狀系數(shù)的增大以及表面粗糙度的增加而減小。影響松裝密度的因素影響粉末松裝密...
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2018-9

LX-9831電壓降測試系統(tǒng)技術資料
LX-9831電壓降測試系統(tǒng)電壓降、接觸電阻、溫升是車用電線束插接器在強電流電路和弱電流電路下電性能評定指標.集成電路及高精度芯片控制.恒流源供給輸出，液晶顯示.提供USB、232通訊接口；可外接控制單元.PC軟件系統(tǒng)，分析電流、時間、溫升、接觸電阻和電壓降變化曲線及數(shù)據(jù)模型.適用于科研院所、企業(yè)研發(fā)、進料檢驗和質量中心等技術部門提供更加和可靠的數(shù)據(jù)保證.滿足標準Standards：滿足國標及歐美標準要求和測試規(guī)范：QC/T730;ISO6722：2002GB/T2951;G...
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2018-9

松裝密度儀的測量方法
松裝密度儀粉塵從漏斗口在一定高度自由落下充滿量筒時，測定松裝狀態(tài)時量筒內單位體積粉塵的質量，即粉塵堆積密度。松裝密度儀目標準篩電熱干燥箱等實驗室常規(guī)設備。自然堆積法測定粉塵堆積密度的裝置按圖1規(guī)定，應水平放置在試驗臺上，其中漏斗錐度60°±0.5°漏斗流出口徑φ12.7mm，漏斗中心與下部圓形量筒中心一致，流出口底沿與量筒上沿距離量筒內徑115mm±2mm，量筒容積100cm3。粉塵自然堆積密度計工業(yè)天平(大稱量1Kg，感量2mg，精度5級)容積1...
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2018-9

FT-3500粉體壓縮強度測試儀詳情介紹
FT-3500粉體壓縮強度測試儀詳情介紹FT-3500Powdercompressionstrengthtester顆粒在壓縮時要經歷初步壓縮、顆粒重排、初始結構形成、彈性形變、塑性形變、顆粒破碎、結合鍵形成、進一步壓實及去除壓力后的彈性恢復等系列變化，顆粒結構被破壞并發(fā)生重組形成新的結合鍵及壓縮體.通過對粉體施加屈服強度變形所需的主應力，來分析粉體的體積、空隙率，壓縮度與屈服強度關系即（主應力與粉體密度的變化關系）.采用經驗方程法：Heckel、Kawakita、Adams...

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